校正服務
光學及輻射度:其他
光探測器的光譜響應度
![光學濾光器的光譜規則透射比校正服務](../../../../../assets/images/scl/calibration_services/ph_spectral_responsivity_measurement_facility.jpg)
光探測器的校正包括光譜響應度的測定,即在特定波長下測量光探測器對輻射的響應。光譜響應度是探測器輸出的安培(A)與入射光束輻射功率(瓦特(W))的比率,以A/W為單位。標準及校正實驗所使用高精度雙分光儀,選擇標準燈源發出的特定單色光學信號,並把結果與實驗所參考標準作比較,從而對接受測試的光探測器進行校正。測量的波長範圍為200 nm至1800 nm。光譜響應度的校正和測量能力(CMC)達至0.4%。
光學濾光器的光譜規則透射比
![光學濾光器的光譜規則透射比校正服務](../../../../../assets/images/scl/calibration_services/ph_calibration_regular_spectral_transmittance_optical_filter.jpg)
光譜規則透射比校正是在室温下進行,校正以單色光束垂直入射到待測光學濾光器的前表面,再比對穿透待測光學濾光器與入射光輻射信號,從而確定光譜規則透射比率 。實驗所可在400 nm至1000 nm的波長範圍為光學濾光器提供0.01至1的光譜規則透射比校正服務。光譜規則透射比的校正和測量能力(CMC)達至0.5%。
波長計/光譜儀/波長源
![波長源校正服務](../../../../../assets/images/scl/calibration_services/ph_calibration_wavelength_source.jpg)
校正採用實驗所汞光譜燈及光譜儀
實驗所透過不同參考標準光源的已知光譜射線與接受測試的光源射線作比對,校正測試光源的射線波長。校正服務的波長範圍為250 nm至600 nm。校正和測量能力(CMC)達至1.5 nm。